金融界2024年11月30日音讯，国家知识产权局信息数据显现，使用资料以色列公司请求一项名为“样本的根据扫描电子显微镜的断层扫描”的专利，公开号CN 119044226 A，请求日期为2024年5月。

　　专利摘要显现，本文公开了一种用于对样本履行非破坏性断层扫描的体系。该体系包含扫描电子显微镜 (SEM)和处理器。该SEM被装备为经过别离以多个投射方向和偏移中的每一者将电子束投射到测验样本上，而且针对每个电子束，丈量从该测验样本回来的电子的相应强度，来取得由矢量参数化的该测验样本的正弦图。该处理器被装备为经过确认指示由等式界说的矢量的重量的值来取得与该测验样本有关的断层扫描图。W是具有重量wij的矩阵，重量wij指定标称样本中的第j个别素对该标称样本的标称正弦图的第i个元素的值的奉献。该矩阵W考虑了电子束在该标称样本内随深度的扩展和衰减。